集成電路測試射頻輻射干擾的設(shè)備及系統(tǒng)專用于對集成電路芯片測試射頻發(fā)射干擾信號(hào)，包含傳導(dǎo)發(fā)射干擾和射頻發(fā)射干擾兩部分。

所有EUTTEST提供的IC-EMC-EMS測試儀器均按國際標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)，關(guān)于IC-EMC測試標(biāo)準(zhǔn)清單